Usługi



 

Oferta laboratoriów Zakładu Metrologii Współrzędnościowej Politechniki Warszawskiej skierowana jest do różnych gałęzi przemysłu w zakresie badań, kalibracji oraz pomiarów współrzędnościowych.


Więcej szczegółów na stronie:


http://www.pomiary.edu.pl/

 

Współrzędnościowa technika pomiarowa

 

Nasze laboratoria przygotowane są do pomiarów części i detali o różnorodnych gabarytach, formach i materiałach technikami stykowymi (w tym punktowo i skaningowo) oraz bezstykowymi.

 

Laboratorium wyposażone jest w certyfikowane wzorce długości i kształtu służące kalibracji maszyn pomiarowych. Urządzenia pomiarowe posiadają aktualne certyfikaty kalibracji według PN-EN ISO 10360.

W szczególności oferujemy wykonanie dokładnych pomiarów geometrycznych za pomocą precyzyjnych, nowoczesnych urządzeń pomiarowych, takich jak:

 

·       Współrzędnościowa maszyna pomiarowa ACCURA 7 o zakresie pomiarowym 900 x 1200 x 700 mm, wyposażona w aktywną, skaningową głowicę pomiarową VAST gold. Maszyna ACCURA umożliwia pomiary stykowe z bardzo wysoką dokładnością – błąd graniczny dopuszczalny wskazania tej maszyny podczas pomiaru wymiaru wynosi (1,7 + L/333) µm, gdzie L oznacza wartość mierzonego wymiaru w milimetrach;

 

·        Optyczna maszyna pomiarowa SmartScope ZIP Lite 250 o zakresie pomiarowym 250 x 150 x 150 mm i niepewności pomiaru (2,0 + 6L/1000) µm w płaszczyźnie XY i (3,5 + 6L/100) µm w osi Z. Maszyna optyczna umożliwia bezstykowe pomiary 2D oraz, dzięki zastosowaniu stykowej, impulsowej głowicy pomiarowej, stykowe pomiary 3D małych przedmiotów;

·       Przenośne, siedmioosiowe ramię pomiarowe MCA II o zakresie pomiarowym 2400 mm, powtarzalności pomiaru punktu ± 28 µm i dokładności przestrzennej ± 40 µm, wyposażonego w skaner laserowy MMC80 o niepewności pomiaru 35 µm. Dzięki funkcji „żabiego skoku” ramię pomiarowe umożliwia mierzenie przedmiotów o wymiarach większych niż zakres pomiarowy, a zastosowanie skanera laserowego pozwala na pomiary bezstykowe oraz szybkie zebranie dużej ilości punktów pomiarowych, co ma zastosowanie między innymi w inżynierii odwrotnej;

·       Traker Laserowy Leica AT901B przeznaczony do współrzędnościowych pomiarów wielkogabarytowych  w zakresie do ±40 m. Dokładność trakera określona jest parametrami:

     - MPE dla przemieszczeń liniowych w trybie interferencyjnym ±0,4mm+0,3mm/m

     - MPR dla przemieszczeń w przestrzeni w trybie dalmierza ± 15 μm + 6 μm/m

 

Urządzenie jest przenośne - umożliwia wykonanie pomiarów w dowolnym miejscu, również na otwartej przestrzeni.

·       Przenośny, optyczny system pomiarowy HandyPROBE służący do pomiarów stykowych, o powtarzalności pomiaru punktu ± 45 µm i dokładności przestrzennej ± 75 µm.

Pomiary przy użyciu ramienia pomiarowego oraz systemu HandyPROBE odbywać się mogą zarówno w naszym laboratorium, jak i w innym, dogodnym dla Państwa miejscu.

·       Komputerowy tomograf rentgenowski Metrotom 800 firmy Zeiss jest nowoczesnym urządzeniem pomiarowym służącym do kontroli wymiarowej, wykrywania wad materiału oraz inżynierii odwrotnej. Umożliwia on pomiar przedmiotów o skomplikowanym kształcie i posiadających trudno dostępne powierzchnie. Tomograf ten wyposażony jest w lampę rentgenowską o napięciu 130 kV oraz detektor o rozdzielczości 1900 x 1512 pikseli. Zakres pomiarowy tego urządzenia to Ø125 x 150 mm, a jego graniczny dopuszczalny błąd pomiaru długości to (4,5 + L/100) µm, gdzie L oznacza mierzoną długość w mm. Metrotom 800 współpracuje z oprogramowaniem Calypso używanym również z klasycznymi współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi.

Pomiary mikro i makrogeometrii powierzchni

Nasze laboratorium dysponuje przyrządami do pomiaru mikrogeometrii powierzchni, falistości i odchyłek kształtu.

·        Urządzenie Form Talysurf PGI 830, pozwala na wykonanie pomiarów mikro i makrogeometrii powierzchni  na długości 200 mm, zakresie pomiarowym w osi Z 8 mm i z rozdzielczością 3.2 nm. Umożliwia wyznaczenie wielu specjalistycznych parametrów chropowatości, falistości i kształtu. Urządzenie pozwala na wyznaczenie innych cech powierzchni np. pomiar objętości nierówności, wizualizację topografii powierzchni i wielu innych.

·        Mikrointerferometr Taylor Hobson Talysurf CCI przeznaczony jest  do pomiaru mikrogeometrii powierzchni, pracuje w świetle o szerokim spektrum. Działa na zasadzie skanowania powierzchni, z detekcją pozycji za pomocą prążka zerowego rzędu interferencyjnego. Pomiar wykonywany jest z rozdzielczością w osi Z: 0,01 nm a w osiach X  i Y od 0,4 do 0,6 um. Powtarzalność wyznaczenia powierzchni może osiągnąć 0,02 nm. Oprogramowanie pozwala na obróbkę, analizę i wizualizację danych pomiarowych, umożliwia wyznaczenie szeregu znormalizowanych parametrów chropowatości w przekroju i na powierzchni. Może zostać wykorzystane przy pomiarach mikroobiektów takich jak soczewki, struktury krzemowe i wiele innych.

Pomiary interferencyjne wysokiej dokładności

Oferujemy możliwość realizacji precyzyjnych pomiarów geometrycznych pomocy interferometrów laserowych.  Pomiary te możemy wykonywać z najwyższą dokładnością w klimatyzowanym pomieszczeniu gwarantującym utrzymanie odchyłek temperatury na stanowisku pomiarowym w granicach  ±0,1°C w przeciągu 8h.

Laboratorium dysponuje interferometrami Zeiss ZLM500, zmodernizowanym interferometrem LMS100 oraz systemem  Renishaw  XL80   do sprawdzania urządzeń pomiarowych i zespołów nastawczych np. obrabiarek.

Dysponujemy wyposażeniem wspomnianych interferometrów umożliwiającym pomiary:

o    przemieszczeń i pozycji liniowych w zakresie do 20 m z możliwą niepewnością 2 m/m i rozdzielczością 5 nm (dla małych zakresów 2,5 nm),

o    przemieszczeń kątowych w zakresie do 5º i rozdzielczością 1,25*10-7 rad,

o   prędkości liniowych do 6,4 m/s, kątowych 320 rad/s,

o   przyśpieszeń,

o   drgań (częstotliwość amplituda),

o   pomiarów odchyłek prostopadłości i prostoliniowości przemieszczeń.

Kalibracja czujników temperatury

Nasze laboratorium dysponuje unikalnym stanowiskiem do automatycznej kalibracji elektronicznych czujników temperatury o zakresie kalibracji od 0 do 50°C. Wzorcem w stanowisku jest czujnik termistorowy firmy FLUKE z rozdzielczością odczytu 0,0001 °C i certyfikowaną dokładnością 0,002 °C. Kalibracja odbywa się w kąpieli, której temperatura jest stabilizowana na poziomie 0,001 °C/godz. Stanowisko umożliwia kalibrację czujników temperatury z dokładnością 0,01 °C w ponad 2000 punków temperatury.