Wykłady

Nazwa przedmiotu: Interferometria przemysłowa.
Prowadzący: Prof.  Marek Dobosz
Opis przedmiotu: Istota interferencyjnych pomiarów długości:Zjawisko interferencji dwóch fal płaskich koherentnych. Kontrast prążków interferencyjnych.Podstawy działania interferometrów przemysłowych.Interferometry jednoczęstotliwościowe.Rozpoznanie kierunku ruchu reflektora pomiarowego. Zliczanie i interpolacja sygnału. Podstawy działania interferometru heterodynowego.Metody wytwarzania dwóch częstotliwości.Generacja prążków interferencyjnych w interferometrze heterodynowym. Wyznaczenie przemieszczenia. Porównanie układów jedno i dwuczęstotliwościowych. Korekcja długości fali światła.
Elementy optyczne stosowane w interferometrach. Pryzmaty i zwierciadła. Płytki opóźniające.
Metody stabilizacji częstotliwości laserów gazowych. Laser gazowy. Wiązka gaussowska.
Bierna stabilizacja częstotliwości. Aktywna stabilizacja częstotliwości. Stabilizacjia z uzyciem komórki jodowej.Układy stabilizacji na centrum krzywej wzmocnienia.Układy stabilizacji wykorzystujące efekt Zeemana.Układy stabilizacji wykorzystujące metodę dwumodową. Porównanie metod stabilizacji częstotliwości. Ocena stałości i powtarzalności częstotliwości.Pomiar stałości i powtarzalności częstotliwości.Praktyczna realizacja.
Wariancja częstotliwości. Wariancja i odchylenie Allana.Stabilność względna częstotliwości.
Układy odbiorcze w interferometrach laserowych.Kompensacja składowej stałej sygnału interferencyjnego.Ustalenie kierunku ruchu reflektora pomiarowego.Układy odbiorcze pracujące w jednorodnym polu interferencyjnym.Wykorzystanie zjawiska polaryzacji kołowej do przesuwania fazowego prążków interferencyjnych. Przykłady realizacji układów. Układy odbiorcze pracujące w polu prążkowym. Właściwości. Przykłady rozwiązań. Generowanie pola prążkowego.
Kompensacja najważniejszych źródeł błędów pomiaru interferometrycznego.Kompensacja zmian długości fali światła. Przegląd rozwiązań rynkowych.Wpływ temperatury otoczenia i jej zmian na tzw. drogę martwą oraz na elementy mechaniczne układu pomiarowego.
Zaawansowane pomiary interferometryczne. Pomiary liniowe. Justowanie interferometru.
Pomiary w układzie z reflektorami narożnymi.Sprawdzanie błędów pozycjonowania maszyny.Układy pomiaru przemieszczeń ze zwierciadłami.Interferometr różnicowy.Pomiary dwuosiowe.Pomiar drgań. Specjalizowane układy optyczne. Sprawdzanie błędów geometrycznych maszyn. Przykłady komercyjnych sytemów pomiarowych. Zintegrowane interferometry światłowodowe.Bezwzględny pomiar długości wzorców końcowych.
Interferencyjne trakery laserowe. Technika sledzenia laserowego. parametry metrologiczne. Sonda T-probe. Połaczenie trakera z fotogramometrią.Zastosowania.
Diody laserowe. Rozkład energetyczny wiazki. Konstrukcja lasera. Wiązka quasi-gaussowska. Zależność mocy od prądu zasilania. Polaruyzacja wiązki. Widmo.
Przetworniki (enkodery interferencyjne). Podstawy teoretyczne. Pr4zetworniki pracujące w swietle odbitym. Przetworniki pracujące w swietle transmisyjnym. Konstrukcje, parametry metrologiczne. Zastosowania.
Materiały pomocnicze (wpisz hasło):

Ocena przedmiotu przez studentów za ostatni rok:

    Brak wysłanych ankiet.

Ankieta: Link do ankiety